Microscopio elettronico a scansione ad emissione di campo (FE-SEM, ZEISS Sigma HD), operante nell’intervallo 0.02-30 kV con risoluzione spaziale di 1 nm (a 30 kV). Il microscopio è dotato di rivelatori per elettroni secondari (InLens e Everhart-Thornley) e per elettroni retrodiffusi e di un sistema per nanoanalisi composizionale di raggi X a dispersione di energia EDX (AZtec, Oxford Instruments).

Responsabile scientifico:Giovanni Mattei 
Responsabile della didattica e della ricerca in laboratorio (RDRL): Giovanni Mattei 
Preposto: Carlo Scian