Apparato X’PERT PRO-Malvern Panalytical per diffrazione ad alta risoluzione e analisi film sottili. Nella modalità alta risoluzione (0.003°) si possono effettuare misure su film epitassiali e/o monocristalli con modifiche strutturali di superficie (semiconduttori, materiali cristallini per ottica). Nella modalità standard (0.022°) si effettuano misure di riflettività di raggi-x e diffrazione a incidenza radente per molteplici applicazioni nell’ambito delle nanostrutture e dei coating funzionali.

Responsabile scientifico: Davide De Salvador  
Responsabile della didattica e della ricerca in laboratorio (RDRL): Davide De Salvador
Preposto: Davide De Salvador