Ellissometro spettroscopico Semilab SE 2000 per la misura delle proprietà ottiche nel range UV-VIS e dello spessore di film sottili ottici. L’apparato inoltre consente di eseguire misure di riflettometria spettrosopica. E’ dotato di sistema per la regolazione automatica dell’angolo di incidenza e traslatore XYZ per la mappatura delle proprietà ottiche su aree estese, anche grazie all’opzione di misura con microfascio.  L’apparato include un software per l’analisi automatica dei dati.

Responsabile scientifico: Da definire
Responsabile della didattica e della ricerca in laboratorio (RDRL): Marco Bazzan
Preposto: Da definire